振動試驗臺設(shè)備掃頻試驗詳細介紹
- 發(fā)表時間:2020-03-05 16:28:16
- 來源:未知
- 作者:高朋實驗設(shè)備
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振動試驗臺的掃頻試驗是相對于固定頻率試驗的。它們都是振動試驗臺的振動測試方法。掃頻測試是通過掃頻找到測試樣品的諧振頻率,廣泛應(yīng)用于電路板和印刷電路板的振動臺虛擬焊接。接下來,上海石寶工程師將向您介紹振動試驗臺的掃頻試驗。
掃描測試分為對數(shù)掃描和線性掃描在對數(shù)掃頻中,低頻掃描速度慢,高頻掃描速度快。對數(shù)掃描頻率的速度單位為Otc/min。FH通常用于表示上限頻率,HL用于表示下限頻率Fh/fl = 2n,n表示n個八度音程從下限頻率傳遞到上限頻率對數(shù)掃描中掃描兩個八度音程的時間是相同的。例如,從10HZ到20HZ的時間與從50HZ到100HZ的時間相同
線性掃頻意味著掃頻速度在任何單位時間內(nèi)都相同,例如,從10HZ到15HZ的時間與從20HZ到25HZ的時間相同。
掃頻測試的復(fù)用功能,尤其是對數(shù)掃頻,可以反映大多數(shù)機械和電子系統(tǒng)的特性,通過掃頻可以很容易地找到測試樣品的諧振頻率。一方面,它可以使我們在產(chǎn)品生產(chǎn)中避免產(chǎn)品的共振頻率,從而減少產(chǎn)品在使用中遭受的損壞。另一方面,通過共振頻率,可以快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的缺陷和不足,有利于改進產(chǎn)品的設(shè)計,提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
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